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テスト ワ ナンノ タメ ニ アルノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著

目次/あらすじ
データ種別 図書
出版者 京都 : ナカニシヤ出版
出版年 2022.9
本文言語 日本語
大きさ ix, 239p : 挿図 ; 26cm

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一般図書 371.7/M 011237989 9784779516832

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別書名 標題紙タイトル:test
裏表紙タイトル:Item response theory
その他のタイトル:テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方
異なりアクセスタイトル:テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える
一般注記 「テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方」 (2017年刊) の姉妹編
参考文献: p233-237
事項索引: p238
人名索引: p.239
著者標目  光永, 悠彦 (1979-) <ミツナガ, ハルヒコ>
 西田, 亜希子 (1976-) <ニシダ, アキコ>
件 名 NDLSH:教育測定
NDLSH:試験 (教育)
BSH:入学試験(大学)
NDLSH:入学試験 -- 大学 -- 日本  全ての件名で検索
分 類 NDC9:371.7
NDC9:376.8
NDC10:376.87
NDLC:FB35
書誌ID 0000117626
ISBN 9784779516832
NCID BC17143066

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